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10.1109/irps.2018.8353641的检索结果 (精准检索)

题目 作者 年份 DOI 执行操作
Reliability of dual-damascene local interconnects featuring cobalt on 10 nm logic technology
2018 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
💎 10
F. Griggio, J. Palmer, F. Pan, N. Toledo, A. Schmitz, I. Tsameret, R. Kasim, G. Leatherman, J. Hicks, A. Madhavan, J. Shin, J. Steigerwald, A. Yeoh, C. Auth 2018 10.1109/irps.2018.8353641 付费解锁 (10)
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