文献详情 / 已收录文献
积分0
注册
Scihuhuan 已收录该文献的检索结果

Effect of interface characteristics of W/HfO 2±x on electronic reliability: Quantum chemical molecular dynamics study

查看该文献的作者、期刊、发表年份与 DOI 信息,并通过平台检索入口继续获取文献。

文献信息

已复制