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Defect Density of States of Tin Oxide and Copper Oxide p-type Thin-film Transistors
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文献信息
- 题目
- Defect Density of States of Tin Oxide and Copper Oxide p-type Thin-film Transistors
- 作者
- Måns J. Mattsson, Kham M. Niang, Jared Parker, David J. Meeth, John F. Wager, Andrew J. Flewitt, Matt W. Graham
- 发表年份
- 2025
- 期刊 / 来源
- Advanced Electronic Materials
- 出版社
- Wiley
- 文献类型
- 学术文献
- 平台记录更新
- 2026-10-08 15:26:55
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